MSA – Analiza Systemów Pomiarowych z elementami SPC – Statystyczne Sterowanie Procesem

MSA – Analiza Systemów Pomiarowych z elementami SPC – Statystyczne Sterowanie Procesem

1. Termin: 19-20 Listopad 2019

2. Termin: 21 – 22 Kwiecień 2020

Czas szkolenia: 2 dni po 7 godzin

Promocyjna cena szkolenia: 1 390,00 zł netto (w przypadku zgłoszenia uczestnictwa w szkoleniu do 30 dni przed terminem rozpoczęcia szkolenia)

Cena szkolenia: 1 490,00 zł netto

10% rabatu dla każdego następnego uczestnika z tej samej Firmy.

Do ceny należy doliczyć 23% VAT.

Miejsce: Hotel Stara Poczta w Tychach

Cena usługi szkoleniowej obejmuje:

  1. Udział w szkoleniu.
  2. Materiały w formie papierowej, notatnik, długopis.
  3. Dwa noclegi w hotelu Stara Poczta (każdy uczestnik ma do dyspozycji osobny pokój z wyposażeniem: Internet, telewizję satelitarną, telefon oraz łazienkę).
  4. Dwa śniadania w formie bufetu szwedzkiego.
  5. Obiad w każdym dniu szkolenia (w przerwie szkolenia).
  6. Bufet kawowy i słodki poczęstunek w każdym dniu szkolenia.
  7. Darmowe miejsce parkingowe dla samochodu osobowego.
  8. Wstęp do spa i na basen hotelowy.
  9. Do wyboru jedna z dwóch poniższych opcji:
  10. Certyfikat uczestnictwa w szkoleniu.
  11. Możliwość bezpłatnych 4-miesięcznych konsultacji po szkoleniu.

Cele szkolenia:

  • Prezentacja zasad funkcjonowania i praktycznego wykorzystania metod statystycznego sterowania procesem (SPC) w odniesieniu do charakterystyk mierzonych ilościowo i jakościowo (klasyfikacja alternatywna).
  • Zdobycie umiejętności doboru narzędzi analizy statystycznej, prowadzenia obliczeń i interpretacji wyników z zakresu SPC.
  • Przedstawienie metod oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) wg wytycznych Automotive Industry Action Group (AIAG) Reference Manual Fourth Edition.

Program szkolenia:

Dzień 1 – MSA:

  1. Podstawowe cele i definicje MSA (ang. Measurement System Analysis): proces pomiarowy, system pomiarowy, pomiar, niepewność pomiaru, jakość oszacowania danych pomiarowych, zmienność od przyrządu pomiarowego EV (ang. equipment variation), zmienność od pomiarowca AV (ang. Appraiser variation), zmienność procesu (od części do części) PV (ang. proces variation), zmienność całkowita TV (ang. total variation), powtarzalność i odtwarzalność R&R (ang. repeatability and reproducibility).
  2. Rozróżnialność (ndc – liczba rozróżnialnych kategorii, rozdzielczość zasada 1:10).
  3. Poprawność – błąd systematyczny BIAS.
  4. Badanie systematycznej odchyłki pomiarowej i rozrzutu przyrządu pomiarowego – wskaźniki Cg i Cgk.
  5. Kryteria oceny zgodności systemu pomiarowego ze względu na proces i na produkt.
  6. Badanie powtarzalności i odtwarzalności pomiarowej (ang. R&R Gage Study) metodą wartości średniej i rozstępu ARM (ang. Average Range Method) dla pomiarów powtarzalnych (nieniszczących).
  7. Porównanie systemów pomiarowych dla oceny liczbowej i atrybutowej (dobry/zły, OK/NOK) – wskazanie i omówienie różnic i podobieństw.
  8. Procedury badania zdolności systemu kontroli alternatywnej wg wytycznych Automotive Industry Action Group (AIAG) Reference Manual Fourth Edition, metoda skrócona („krótka”) – analiza 2-óch kontrolerów dla 20 wyrobów.

Dzień 2 – SPC:

  1. Wprowadzenie: znaczenie metod statystycznych w systemie zarządzania jakością, kluczowe informacje w oparciu o IATF 16949:2016, ISO 9001:2015, statystyczne narzędzia i metody jakości (ISO/TR 10017).
  2. Podstawy statystycznej analizy danych:
    • Definicja procesu, zmienna losowa a zmienna specjalna, proces stabilny i proces poza kontrolą statystyczną.
    • Statystyczny opis danych – miary położenia rozkładu (średnia arytmetyczna, mediana), miary rozrzutu (rozstęp, odchylenie standardowe, wariancja).
  3. Karty kontrolne Shewharta dla:
    • Oceny liczbowej: karta X-bar S (wartości średniej i odchylenia standardowego), Xi MR (wartości indywidualnej i ruchomego rozstępu).
    • Oceny alternatywnej: karta p (frakcji jednostek niezgodnych), karta c (liczby niezgodności), karta u (liczby niezgodności na jednostkę).
  4. Analiza zdolności i wydajności procesu dla danych zgodnych z rozkładem normalnym:
    • Klasyczne wskaźniki Cp, Cpk, Pp, Ppk, Cpm (zgodnie z podręcznikiem AIAG Statistical Process Control Second Edition), organicznie jednostronne i dwustronne.
    • Obliczanie prawdopodobieństwa, frakcji realizacji poza granicami specyfikacji z wykorzystaniem programu MS Excel i Minitab.

Wszystkie obliczenia wykonywane są z użyciem arkusza kalkulacyjnego MS Excel i programu do analizy statystycznej Minitab. Przygotowane podczas szkolenia kalkulatory (i dodatkowe otrzymane w ramach szkolenia) mogą zostać wykorzystane do statystycznej analizy SPC i MSA w przedsiębiorstwie. Uczestnicy wykonują pomiary, wprowadzając je do przygotowanych kalkulatorów, dokonują analizy i interpretacji w celu wyciągnięcia wniosków. Ten sposób prowadzenia szkolenia, gwarantuje lepsze zrozumienie tematu, a także znacząco zwiększa prawdopodobieństwo poprawnego prowadzenia działań z zakresu SPC i MSA.

Uczestnik nauczy się:

  • Praktycznego wykorzystywania narzędzi i metod statystycznych z zakresu SPC.
  • Dobierania odpowiednich narzędzi statystycznych w zależności od charakteru analizowanych danych.
  • Prowadzenia obliczeń a następnie dokonywania analitycznej i graficznej interpretacji.
  • Identyfikowania potrzeb i wdrażania narzędzi SPC.
  • Interpretacji współczynników zdolności procesu i ich wpływ na jakość produkcji.
  • Budowania i wykorzystywania kalkulatorów statystycznych używając programu MS Excel.
  • Identyfikowania potrzeb i wdrażania narzędzi MSA.
  • Praktycznego wykorzystywania narzędzi i metod statystycznych z zakresu MSA.
  • Na co zwracać szczególną uwagę podczas analizy kwalifikacji systemów pomiarowych.
  • Dobierania metod do oceny systemów pomiarowych.

Adresaci szkolenia:

Szkolenie skierowane jest do wszystkich osób, które powinny rozumieć, stosować oraz interpretować narzędzia statystycznego sterowania procesem w praktyce. W szczególności dotyczy to:

  • Inżynierów, technologów, techników działów produkcyjnych i kontrolnych.
  • Pracowników laboratoriów pomiarowych, osób wykonujących pomiary procesów technologicznych.
  • Kadry kierowniczej, osób zarządzających elementami procesu produkcyjnego.
  • Pracowników działów współpracujących z klientem, osób odpowiedzialnych za jakość dostawców materiałów do produkcji.
  • Analityków odpowiedzialnych za analizę danych oraz za regulację i optymalizację procesów technologicznych.
  • Osób odpowiedzialnych za nadzór nad wyposażeniem pomiarowo-kontrolnym.
  • Auditorów wewnętrznych, drugiej i trzeciej strony (dostawców i certyfikujących).
  • Osób z certyfikatami Green Belt i Black Belt metody Lean SIX SIGMA.
  • Osób z certyfikatami metody Shainina (Red X): Apprentice, Journeyman, Technical Master.

Pobierz Formularz Zgłoszenia

Przeczytaj Regulamin szkoleń otwartych

Pobierz HARMONOGRAM SZKOLEŃ OTWARTYCH na I połową 2020 roku