Minitab – zakres podstawowy

Minitab – zakres podstawowy

Wykorzystanie testu Bartletta w praktyce

1. Termin: 18 – 19 Luty 2020

2. Termin: 16 – 17 Czerwiec 2020

Czas szkolenia: 2 dni po 7 godzin.

Miejsce: Hotel Stara Poczta w Tychach.

Promocyjna cena szkolenia: 1 490,00 zł netto (w przypadku zgłoszenia uczestnictwa w szkoleniu do 30 dni przed dniem rozpoczęcia szkolenia).

Cena szkolenia: 1 590,00 zł netto.

10% rabatu dla każdego następnego uczestnika z tej samej Firmy.

Cena usługi szkoleniowej obejmuje:

  1. Udział w szkoleniu.
  2. Materiały w formie papierowej, długopis.
  3. Dwa noclegi w hotelu Stara Poczta.
  4. Dwa śniadania w formie bufetu szwedzkiego.
  5. Bufet kawowy i słodki poczęstunek w każdym dniu szkolenia.
  6. Miejsce parkingowe dla samochodu osobowego.
  7. Wstęp do spa i na basen hotelowy.
  8. Do wyboru jedna z dwóch poniższych opcji:
  9. Certyfikat uczestnictwa w szkoleniu.
  10. 4 miesięczne konsultacje po szkoleniu.

Cel szkolenia:

Nabycie umiejętności praktycznego zastosowania programu Minitab w zakresie podstawowym, a także prowadzenia analizy danych z procesów technologicznych.

Szacunkowy udział części praktycznej (warsztaty i ćwiczenia): 70%

Program szkolenia:

Wprowadzenie do obsługi programu Minitab:

  • Charakterystyka programu Minitab.
  • Podstawowe operacje.
  • Interfejs użytkownika.
  • Usługa „help” i „help” kontekstowy.
  • Okno sesji i arkusz kompletowania danych.
  • Organizacja i ustawienie programu Minitab do preferencji użytkownika.

Moduł – Graficzna prezentacja danych, a także budowanie i interpretacja najczęściej wykorzystywanych wykresów Minitab w praktyce przemysłowej, m.in:

  • punktowy (dotplot),
  • wartości indywidualnej pomiaru (individual value plots),
  • liniowy (line chart),
  • kolumnowy (bar chart),
  • kołowy (pie chart),
  • histogram,
  • rozrzutu (scatterplot),
  • pudełkowy (box-plot),
  • przedziałowy (interval plot),
  • rozkładów prawdopodobieństwa (probability distribution plots).
  • Run Chart – wykres z testami przyczyn specjalnych: mieszanin, oscylacji, trendów i grupowania danych empirycznych.
  • Budowa diagramu Ichikawy.
  • Analiza Pareto – Lorenza.

Moduł – Podstawy statystycznej analizy danych:

  • Miary położenia rozkładu normalnego: miary wycentrowania, rozproszenia, symetrii i spłaszczenia procesu.
  • Rozkład normalny i jego właściwości.
  • Badanie normalności rozkładu danych (graficzna i obliczeniowa metoda) i jego zastosowanie w praktyce.
  • Dlaczego rozkład normalny lub jego brak jest tak ważny dla wstępnej analizy zmienności procesu.
  • Rozkłady inne niż normalne występujące w praktyce: Gamma, Log-normalny, Weibull.
  • Dopasowanie rozkładu teoretycznego do empirycznego.
  • Identyfikacja wyników izolowanych, odstających, outliers (testy Grubbsa, Dixona).
  • Dokładność oceny: estymacja punktowa i przedziałowa.
  • Pojęcie hipotezy statystycznej: hipoteza zerowa i alternatywna.
  • Funkcja mocy testu, dobór liczności próbki.
  • Podstawowe testy statystyczne: test normalności rozkładu, test t Studenta dla wartości oczekiwanej, test t Studenta dla dwóch prób niezależnych, test F dla wariancji).
  • Test dla proporcji i dla porównania dwóch proporcji (frakcji).

Podstawy Analizy Systemów Pomiarowych:

  • Cele i definicje MSA (ang. Measurement System Analysis): proces pomiarowy, system pomiarowy, pomiar, zmienność od przyrządu pomiarowego EV (ang. equipment variation), zmienność od pomiarowca AV (ang. Appraiser variation), zmienność procesu (od części do części) PV (ang. proces variation), zmienność całkowita TV (ang. total variation), powtarzalność i odtwarzalność R&R (ang. repeatability and reproducibility).
  • Badanie systematycznej odchyłki pomiarowej (BIAS Study) i rozrzutu przyrządu pomiarowego – wskaźniki Cg i Cgk.
  • Kryteria oceny zgodności systemu pomiarowego ze względu na proces i na produkt.
  • Badanie powtarzalności i odtwarzalności pomiarowej (ang. R&R study) metodą ARM (ang. Average Range Method) Metoda wartości średniej i rozstępu dla pomiarów powtarzalnych (nieniszczących).

Podstawy Statystycznego Sterowania Procesem:

  • Wprowadzenie: znaczenie metod statystycznych w systemie zarządzania jakością, kluczowe informacje w oparciu o IATF 16949:2016, ISO 9001:2015, statystyczne narzędzia i metody jakości (ISO/TR 10017).
  • Definicja procesu, zmienna losowa a zmienna specjalna, proces stabilny i proces poza kontrolą statystyczną.
  • Karta kontrolna oceny liczbowej I – MR (wartości indywidualnej i ruchomego rozstępu) i Xbar -R (wartości średniej i rozstępu) – budowa i interpretacja, testowanie sytuacji nielosowych rozkładu danych i wykraczających poza zakres 6 sigma.
  • Analiza zdolności oraz wydajności procesu dla danych zgodnych z rozkładem normalnym. Klasyczne wskaźniki Cp, Cpk, Pp, Ppk, Cpm. Obliczanie prawdopodobieństwa, frakcji realizacji poza granicami specyfikacji. Obliczanie wskaźnika PPM (ang. Parts per milion).

Obliczenia poparte są wieloma przykładami praktycznymi.

Wszystkie obliczenia wykonywane są z użyciem programu do analizy statystycznej Minitab. Uczestnik otrzymuje gotowe instrukcje w formie papierowej przedstawiające sposoby wykonywania procedur statystycznych, a także opisy interpretacji ich wyników. Analizy prowadzone z użyciem danych z rzeczywistych procesów i problemów, które wystąpiły w przeszłości. Obliczenia poparte są bogatym wsparciem przedstawiającym studium praktycznego przypadku (case study).

Uczestnik nauczy się:

  • Praktycznego wykorzystywania programu Minitab do potrzeb prowadzenia analiz w przedsiębiorstwie.
  • Dobierania odpowiednich narzędzi statystycznych w zależności od charakteru analizowanych danych, prowadzenia obliczeń a następnie dokonywania analitycznej i graficznej interpretacji.
  • Identyfikowania potrzeb i wdrażania narzędzi z zakresu MSA, SPC, statystyki opisowej i wnioskującej.
  • Podstaw rozwiązywania problemów procesów produkcyjnych i jakości wyrobów z wykorzystaniem programu Minitab.
  • Graficznej prezentacji danych, a także metod interpretacji grafik.

Adresaci szkolenia:

Szkolenie skierowane jest do:

  • Inżynierów produkcji, jakości, utrzymania ruchu i narzędziowni.
  • Technologów, techników, pracowników laboratoriów pomiarowych, a także osób wykonujących pomiary procesów technologicznych.
  • Kadry kierowniczej każdego szczebla administracyjnego.
  • Pracowników działów współpracujących z klientem, osób odpowiedzialnych za jakość dostawców materiałów do produkcji.
  • Analityków odpowiedzialnych za analizę danych oraz za regulację i optymalizację procesów technologicznych.
  • Osób z certyfikatami metody Shainina (Red X): Apprentice, Journeyman, Technical Master.
  • Certyfikowanych Green Beltów i Black Beltów metody SIX SIGMA.
  • Ekspertów odpowiedzialnych za proces rozwiązywania problemów w przedsiębiorstwie.

Pobierz Formularz Zgłoszenia

Przeczytaj Regulamin szkoleń otwartych

Pobierz HARMONOGRAM SZKOLEŃ OTWARTYCH na I połową 2020 roku